




采用背压法检漏时,首先将被检产品置于高压的---气室中,浸泡数小时或数天,电力中高压电力环网柜真空箱检漏系统,如果被检产品表面有漏孔,---气便通过漏孔压入被检产品内部密封腔中,使内部密封腔中---分压力上升。然后取出被检产品,将表面的残余---气吹除后再将被检产品放入与检漏仪相连的真空容器内,被检产品内部密封腔内的---气会通过漏孔泄漏到真空容器,再进入---质谱检漏仪,从而实现被检产品总漏率测量。检漏仪给出的漏率值为测量漏率,需要通过换算公式计算出被检产品的等效标准漏率。
背压法的优点是检测灵敏度高,能实现小型密封容器产品的泄漏检测,可以进行批量化检测。
背压法的缺点是不能进行大型密封容器的漏,否则由于密封腔体容积太大,导致加压时间太长。此外,每个测量漏率都对应两个等效标准漏率,在细检完成后还需要采用其它方法进行粗检,排除大漏的可能。
背压法的检漏主要应用于各种电子元器件产品检漏。
检漏仪的响应时间会影响检漏工作的速度,正常运行的仪器响应时间不大于3s。笔者实测时,电力真空箱检漏系统,在漏点处喷射---气5~10s后,检漏仪就发生响应,对于如此庞大的真空系统,其反应是相当的灵敏。
检漏时喷在漏孔处停留的时间应为仪器响应时间的3倍,该时间再加上---气在真空系统中的传递时间,即为两次喷---的较小间隔时间,当然真空系统越庞大,该间隔时间也越长。笔者根据实测经验,两次喷---的较小间隔时间控制在30s左右,即如果次喷---后30s内检漏仪还没有反应,则可进行第二次喷---。
清除时间在理论上与响应时间相同,但由于仪器零件对---的吸附和脱附作用的影响,检漏系统,清除时间一般要更长些。笔者---,在测试到数量级为10-9p a ?m3/s的微漏漏点时,清除时间约须1分钟;在测试到数量级为10-8p a ? m3/s的中漏漏点时,清除时间约须2分钟;在测试到数量级为10-7pa?m3/s的大漏漏点时,清除时间在3分钟左右。
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漏率的温度修正
标准漏孔漏率易受温度变化影响,温度对标准漏孔漏率的影响一般为3%/℃ ,所以如果实际环境温度和标准漏孔---中温度不一致,真空箱检漏系统,需要将标准漏孔---中漏率和标准漏孔漏率的---质谱检漏仪示值修正至同一环境温度下来计算,并在测试结果中加以说明,修正方法如下:
方法一: 将标准漏孔---中的漏率修正至实际环境温度下,用标准漏孔---中的漏率加上或减去温度对标准漏孔漏率的影响系数计算值;
方法二: 将标准漏孔漏率的---质谱检漏仪示值平均值修正至标准漏孔---中环境温度下,用标准漏孔漏率的---质谱检漏仪示值平均值加上或减去温度对标准漏孔漏率的影响系数计算值。
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